[논문리뷰] No Label Left Behind: A Unified Surface Defect Detection Model for all Supervision Regimes본 논문은 기존 표면 결함 감지 모델들이 특정 감독 시나리오에 제한되거나 다양한 데이터 주석 유형(비지도, 약지도, 혼합, 완전 지도)에 적응하기 어려운 문제를 해결하고자 합니다.#Review#Surface Defect Detection#Anomaly Detection#Mixed Supervision#Deep Learning#Industrial Inspection#Unified Model2025년 9월 2일댓글 수 로딩 중